本书最大的特色是完全根源于设计实践，基本不对复杂理论和公式进行讨论，从实际工作的需要出发，将设计中所需要考虑的要点配合案例，翔实地展现在读者面前。
全书分8章。
第2章介绍了在高速电路设计中电阻、电容、电感、磁珠等器件的应用。
第3章介绍了逻辑器件的选型，并详细讨论了对LVDS、LVPECL、CML等高速电平的应用。
第1章概述11.1低速设计和高速设计的例子1
【案例1-1】简化的存储电路模块1
1.1.1低速设计1
1.1.2高速设计2
1.2如何区分高速和低速3
1.3硬件设计流程5
1.3.1需求分析6
1.3.2概要设计7
1.3.3详细设计7
1.3.4调试9
1.3.5测试9
1.3.6转产10
1.4原理图设计11
2.1电阻的应用13
【案例2-1】串联电阻过大，导致板间告警失败13
【案例2-2】电阻额定功率不够造成的单板潜在缺陷14
【案例2-3】电阻在时序设计中的妙用15
2.1.2电阻应用要点16
2.2电容的选型及应用17
【案例2-4】电容失效导致低温下硬盘停止工作17
2.2.2高速电路设计中电容的作用及分析19
【案例2-8】利用0612封装的电容增强滤波性能21
【案例2-9】LDO电源应用中的滤波电容ESR问题22
【案例2-10】高频电路中1F+0.01F是否能展宽低阻抗频带24
2.2.3高速电路设计常用电容及其应用要点26
【案例2-11】陶瓷电容选型错误导致单板丢数据包27
【案例2-12】根据电路要求进行钽电容选型29
2.2.4去耦电容和旁路电容31
2.3电感的选型及应用32
【案例2-13】LC低通滤波导致输出电源电压纹波偏大32
2.3.2高速电路设计中电感的作用35
2.3.3高速电路设计常用电感及其应用要点36
2.4磁珠的选型及应用39
2.4.1磁珠的滤波机理39
2.4.2高速电路设计中磁珠的选型及其应用要点40
2.4.3磁珠和电感的比较42
第3章高速电路中的逻辑器件选型及高速逻辑电平应用44
【案例3-1】逻辑器件输入端上拉太弱造成带电插拔监测功能失效44
3.2逻辑器件应用要点47
3.2.1逻辑器件概要47
【案例3-2】逻辑器件驱动能力过强造成信号振铃51
【案例3-3】同一型号逻辑器件的差异性造成PHY配置错误51
3.2.3逻辑器件功耗计算60
3.2.4逻辑器件热插拔功能介绍62
3.2.5逻辑器件使用中注意事项的总结68
3.3高速逻辑电平应用68
3.3.1高速逻辑电平概述68
【案例3-4】差分对走线附近信号分布不均衡造成电磁辐射70
3.3.2LVDS逻辑电平介绍及其应用要点71
3.3.3LVPECL逻辑电平介绍及其应用要点75
3.3.4CML逻辑电平介绍及其应用要点77
3.3.5高速逻辑电平的比较78
3.3.6高速逻辑电平的互连及其应用要点78
第4章高速电路中的电源设计87
【案例4-1】LDO输出电源电平低于设置值87
4.2高速电路设计的电源架构90
4.2.1集中式电源架构90
4.2.2分布式电源架构90
4.3高速电路电源分类及其应用要点91
4.3.1LDO电源介绍及其应用要点92
【案例4-4】计算LDO工作时的结温95
【案例4-5】SENSE功能导致电源芯片输出电压不稳定97
【案例4-8】48V缓启电路中MOSFET烧坏111
【案例4-10】基于LTC1422实现上电速度的控制115
【案例4-11】基于电源芯片实现上电速度的控制115
【案例4-12】基于RC阻容电路实现延时功能116
【案例4-13】上电电流过大引起电感啸叫116
【案例4-14】输入电源上电过缓造成输出电源上电波形不单调117
4.3.3电源管理124
4.3.4保险管的选型及应用124
【案例4-15】热插拔单板的保险管选型126
第5章高速电路中的时序设计127
5.1时序设计概述127
5.2时序参数介绍127
5.3源同步系统时序设计129
5.3.1源同步系统时序设计原理129
5.3.2源同步系统时序设计范例一131
5.3.3源同步系统时序设计范例二134
5.4共同时钟系统时序设计136
5.5源同步系统与共同时钟系统的比较137
第6章高速电路中的复位、时钟设计139
6.1复位电路设计139
6.1.2复位设计介绍及其应用要点141
【案例6-2】存储模块读取的错误141
6.1.3专用复位芯片的使用142
6.2时钟电路设计145
【案例6-3】系统时钟偏快的问题145
【案例6-5】高温流量测试丢包问题148
6.2.2晶体、晶振介绍及其应用要点150
【案例6-6】利用首个时钟沿启动组合逻辑导致CPU工作不稳定153
6.2.3锁相环及其应用157
【案例6-7】两级锁相环的应用导致MPC8280的PCI时钟失锁162
6.2.4时钟抖动与相位噪声164
第7章高速电路中的存储器应用与设计172
【案例7-1】时序裕量不足导致存储器测试出错172
7.2常用存储器介绍及其应用要点174
7.2.1存储器概述174
7.2.2SDRAM介绍及其应用要点176
7.2.3DDRSDRAM介绍及其应用要点188
【案例7-2】DLL缺陷造成DDRSDRAM时序出错192
7.2.4DDR2SDRAM介绍及其应用要点203
【案例7-4】CPU存储系统不能识别8位内存条的问题211
7.2.5SRAM介绍及其应用要点212
【案例7-5】片选处理不当导致SRAM数据丢失214
7.2.6FLASH与EEPROM介绍227
【案例7-6】热插拔导致单板FLASH损坏227
【案例8-1】回流路径缺陷对高速信号质量的影响232
8.2PCB层叠结构与阻抗计算234
8.2.1Core和PP234
8.2.2PCB的层叠结构和阻抗设计234
8.3高速电路PCB设计要点241
8.3.1PCB设计与信号完整性241
【案例8-2】传输线的判断241
【案例8-3】反射的计算242
【案例8-4】DDRSDRAM设计时，终端电阻RTT布放位置的选择244
【案例8-5】大驱动电流信号对高速数据信号的串扰250
【案例8-6】高速接口器件批次更换造成辐射超标252
8.3.2PCB设计与电源完整性257
8.3.3PCB设计中的EMC260
【案例8-8】网口指示灯信号线引发的辐射问题264
【案例8-11】GND和HV_GND混用导致电源控制电路失效270
8.3.5PCB设计与结构、易用性272
【案例8-12】网口指示灯排列顺序出错273
8.3.6PCB设计与散热274
8.3.7PCB设计与可测试性275
参考文献279
资料--|积分--
长沙市望城经济技术开发区航空路6号手机智能终端产业园2号厂房3层（0731-88081133）