XRD衍射谱图上的衍射峰对应的晶面该怎么看

峰越高代表晶体发育良好，该物相含量多，峰强比是每个峰的高度与最强峰的比值，与峰高同样含义。

先利用XRD确定相，然后根据相判断晶体结构。xrd一般指X射线衍射。1912年，劳厄等人根据理论预见，证实了晶体材料中相距几十到几百皮米（pm）的原子是周期性排列的；这个周期排列的原子结构可以成为X射线衍射的“衍射光栅”；X射线具有波动特性，是波长为几十到几百皮米的电磁波.

haguruma材料内部存在的残余应力会导致衍射峰偏移，而晶粒细化，位错密度增加会造成衍射峰的宽化mygod8220XRD是晶面与反射角的关系XRD峰的偏移只可能与晶格指数的变化有关系引起晶格指数变化的因素可以有位错引起的滑移、攀移等溶质元素相互的置换，第三溶质进入间隙位置，等引起的晶格畸变pete

XRD图谱峰的面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。峰窄说明晶粒大，可以用谢乐公式算晶粒尺寸。XRD图谱峰高如果是相对背地强度高，表示晶相含量高，跟面积表示晶相含量一致。XRD图谱峰高如果是A峰相对B峰高很多，两峰的高度比“A／C”相对标准粉末衍射图对应峰的高度比要大很多，那么这个材料是A方向择

XRD可以做定性，定量分析。即可以分析合金里面的相成分和含量,可以测定晶格参数,可以测定结构方向、含量，可以测定材料的内应力，材料晶体的大小等等。一般主要是用来分析合金里面的相成分和含量。样品制备：通常定量分析的样品细度应在1微米左右，即应过320目筛。SEM是利用电子和物质的相互作用，可以获取被测

1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。2、EDS(EnergyDispersiveSpectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析

xrd峰强度高低说明相对背地强度高低，表示晶相含量，跟面积表示晶相含量一致。峰的面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。峰窄说明晶粒大，可以用谢乐公式算晶粒尺寸。峰的强度低是XRD图谱的性质，就是峰不是很尖锐，峰很钝，学名叫做宽化，这样反应的样品性质就是粒径很小，结晶度低是样品的性质，反映在图谱上

1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。2、EDS(EnergyDispersiveSpectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析范围：

我简单的回答你的问题X射线图谱可以测没一个面的晶粒大小也可以测平均晶粒尺寸pengjuan(站内联系TA)这个算的不是很准的，只能作参考。λ不用介绍了，是你做的XRD仪的波长；θ是最强峰的衍射角，要注意图谱中一般给出的是2θ，还要注意单位是弧度还是度；B是半峰宽，比较麻烦，按标准的算法，应

XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味着变大,常见是掺入了比主体大的杂原子出现“掺杂”，杂质原子会使晶胞参数变大或变小；如果左移,说明晶胞参数变大,晶面间距变大；制样时要尽量使样品和样品板相平,制样做出的数据才准确.如样品高于样品板参照面就会使衍射峰左移。如果不是全谱所有峰都发生位移而

XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移，意味着晶格常数变大，常见是掺入了比主体原子半径大的杂原子。如果不是全谱所有峰都发生位移而只是少数或个别高角度衍射峰发生位移，则不是掺杂原子引起晶格常数变化所致，很可能是存在宏观残余应力引起晶格畸变的反映。宏观残余应力可能引起晶格各向异性收缩，对某些衍射为压应力

原子吸收光谱（AtomicAbsorptionSpectrometry,AAS）根据蒸气相中被测元素的基态原子对其原子共振辐射的吸收强度来测定试样中被测元素的含量；适合对纳米材料中痕量金属杂质离子进行定量测定，检测限低，ng/cm3，10-10—10-14g；测量准确度很高，1%（3

常规XRD测试给出的是晶体样品物相信息，比如测定晶体二氧化硅粉末时，可以得到该样品的X射线衍射图谱。衍射谱是由样品在X射线照射下产生的，随着角度的变化，逐渐把晶体每个晶面显现出来，形成对应的衍射峰，多个衍射峰形成一张特定衍射谱。某一种物相有对应的衍射谱，若已知衍射谱，也可以反推物相。

常规扫描可以知道晶体的物相，用高温附件可知道在温度变化情况下的物相变化。小角衍射可知道粘土等层状材料的层间距，掠入射模式可测得纳米薄膜材料厚度，还有些特殊工具可测晶体的残余应力、织构信息等。通过对XRD结果分析，还可以测得晶体掺杂情况、物相占比情况等等。

xrd样品要求表面平整，薄片就行。xrd测得的是各相的组成，一般定性容易，定量很难。对于元素，建议用能谱进行分析，很容易得到元素及含量。

一种获得X射线单晶体衍射图的实验技术。常用闪烁计数器作探测器。入射光和探测器在一个平面内（称赤道平面）,晶体位于入射光与探测器的轴线的交点，探测器可在此平面内绕交点旋转，因此只有那些法线在此平面内的晶面族才可能通过样品和探测器的旋转在适当位置发生衍射并被记录。如何让那些法线不在赤道平面内的面族也会发

JK-CH600190-XRD冷热台JK-CH600190-XRD冷热台是一种安装在X-射线衍射仪上研究样品变温X-射线衍射的附件。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，提供-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）温度范围内的气氛/真空测试环境。适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研

SEM，EDS，XRD的区别，SEM是扫描电镜，EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪，是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。XRD是X射线衍射仪，是用于物相分析的检测设备。SEM用于观察标本的表面结构，其工作原理是用一束极细的电子束